Leica GPM3 Planplattenmikrometer für NA2 und NAK2

Die höchste Leica Qualität seit 1999 - Leica NA2 / NAK2 Nivelliergeräte

Leica GPM3 Planplattenmikrometer für NA2 und NAK2

Die hohe Einspielgenauigkeit der Automatik von etwa ±0,3" einer Ziellinienhorizontierung von etwa ±0,01 mm/10 m entsprechend – schafft zusammen mit dem aufsetzbaren Planplattenmikrometer GPM3 und dem 40fachOkular (zusätzliche Ausstattungen) ideale Voraussetzungen zur Verwendung des NA2 für Präzisionsnivellements und Kontrollmessungen. Der Mikrometertrieb, durch den die horizontale Ziellinie parallel gehoben oder gesenkt wird, befindet sich handlich am Okularende des Nivelliers. Die Parallelversetzung wird an einem hellen Glasmassstab bequem über ein Okular direkt auf 0,1 mm digital abgelesen und auf 0,01 mm geschätzt. Der Glasmassstab ist im Gegensatz zu der oft üblichen Teilung einer Metalltrommel ermüdungsfrei abzulesen und kann für jedes Auge scharfgestellt werden. Mit dem Keilfaden lässt sich der Teilstrich einer Invarlatte mit hoher Genauigkeit einstellen.

Beim automatischen Universal-Nivellier NA2 bleiben keine vermessungstechnischen Wünsche in bezug auf Genauigkeit, Komfort und Zuverlässigkeit mehr offen. Es wurde von Vermessungsingenieuren und Konstrukteuren geschaffen, die die Anforderungen an ein feldtüchtiges Instrument aus langjähriger Erfahrung kennen. Seine Anschaffung macht sich rasch bezahlt, da es für alle Nivellements eingesetzt werden kann: auf Bauplätzen für einfache Höhenmessungen, im Ingenieurbau oder in der Geodäsie für Messungen in allen Genauigkeitsklassen.

Flexibilität, die sich auszahlt
Die NA Serie wurde für alle Arten von Vermessungsaufgaben entwickelt. Mit den Leica NA Nivellieren haben Sie immer das richtige Werkzeug zur Hand, unabhängig davon, ob Sie routinemäßige Nivellements auf Baustellen durchführen, oder Gebäude, Gleisanlagen und Straßen überprüfen oder überwachen.

Höchste Genauigkeit und Zuverlässigkeit
Verlässliche und präzise Nivellement-Ergebnisse sogar an sonnigen Tagen. Die erstklassige optische Qualität von Leica Geosystems liefert immer ein Bild mit hohem Kontrast und ermöglicht eine präzise und unkomplizierte Ablesung, sogar unter ungünstigen Lichtbedingungen. Dank der hohen Temperaturstabilität liefern die Leica NA Nivelliere immer verlässliche Ergebnisse und sind gegenüber direkter Sonneneinstrahlung relativ unempfindlich.

Schnelle und bequeme Einrichtung
Arbeiten Sie effizienter und sparen Sie Zeit mit den schnell einzurichtenden Leica NA Nivellieren. Verwenden Sie die Grobeinstellung am Fokussierknopf für eine schnelle Einstellung mit wenig Drehbewegung. Mit der Feineinstellung erledigen Sie den letzten Schliff für ein perfektes Bild. Um die Funktion des Kompensators zu prüfen, drücken Sie einfach die Taste. Diese Prüfung dauert weniger als eine Sekunde und gibt Ihnen ein hohes Maß an Sicherheit.

Technische Daten:

• Standardabweichung für 1 km Doppelnivellement: je nach Latte und Messverfahren bis 0,7 mm mit Planplattenmikrometer 0,3 mm
• Fernrohrvergrösserung: aufrechtes Bild
• Standard-Okular: 32× ; Okular FOK73 (auf Wunsch) 40× ; Okular FOK117 (auf Wunsch) 25×
• Freier Objektivdurchmesser: 45 mm
• Sehfelddurchmesser auf 100 m: 2,2 m
• Kürzeste Zielweite: 1,6 m
• Multiplikationskonstante: 100
• Additionskonstante: 0
• Neigungsbereich des Kompensators: ~30'
• Einspielgenauigkeit (Std. Abw.): 0,3"
• Empfindlichkeit der Dosenlibelle: 8'/2 mm
• Glaskreis (K-Modell): 400 gon (360°)
• Teilungsdurchmesser: 70 mm
• Skalenintervall: 1 gon (1°)
• Ablesung durch Schätzung: 10 mgon (1')
• Temperaturbereich: Betrieb –20°C bis +50°C ; Lagerung –40°C bis +70°C
• Planplattenmikrometer (zusätzliche Ausstattung):

• GPM3 mit Glasmassstab (Bereich Intervall Schätzung): 10 mm 0,1 mm 0,01 mm
• GPM6 mit Mikrometertrommel (Bereich Intervall Schätzung): 10 mm 0,2 mm 0,05 mm
  
  

Lieferumfang:

• Leica GPM3 Planplattenmikrometer

Weitere Informationen zu der Händlergarantie finden Sie hier:

https://www.hersch.shop/i/garantiebedingungen

WEEE-Reg.-Nr. DE 65247266